제품
PODUCT INFO
그린광학
측정/평가
장비 측정 스펙
간섭계 : 평면/실린더/곡률 측정 (CX ≤ 700, CC ≤ 1000)
- RMS Simple Repeatability <0.06nm, λ/10,000(2σ)
- RMS Wavefront Repeatability <0.35nm, λ/1,800(mean + 2σ)
- Peak Pixel Deviation < 0.5nm, λ/1,200 (99.5%)
- Pupil Focus Range 4inch
3차원 측정기 : 평행도/평면도/직각도/진원도 측정
- Resolution(um) : Standard 0.5, High Acuuracy 0.1
- Maximum Permissible : Standard 3.5 +L/300, 3.5, High Accuracy 3.0 + L/300, 3.0
프리즘 마스터 : 각도측정
- Electronic autocollimator : EFL 300mm, Diameter 57mm
- Accuracy of the autocollimator : Resolution 0.01' Repeatability ± 0.1
표면조도측정 :표면 거칠기 측정(Ra)
- 10x, 50x, 100x 측정 가능
- Vertical Scan Range
- 150um, Extended scan range to 20mm
- Vertical Resolution < 0.1mm
- Lateral Resolution 0.36 to 9.50 um
- RMS Repeatability <0.01 nm
분광기: 투과율/ 반사율/(절대반사)/ 흡수율 측정
- 사용 파장 영역 190~2800nm / 250~2500nm (with Auto Polarizer)
- 투과율 0도~85도
- 측정오차 (10회 반복측정시) <0.1%
Mahr LD 260 : 평면/ 비구면/ 실린더/ 형상 및 거칠기 측정
- 프로브 측정범위
(1) 13mm (100mm 프로브암)
(2) 26mm (200mm 프로브암)
- Tracing Force : 0.5 - 30mN
- Drive X축의 불확도 : ± 0.2*L1000um
- 측정시간 : 5~10 min
- 측정범위/분해능(Z축) 13mm/ 0.8nm
- 최소 측정거리(X축) 0.05-30 um
- 위치 정밀도 : 0.1 um
ASI : 평면/ 비구면/ 곡률 측정 (CX 550/ CC 700)
- 반복성 ≤ 10nm (λ/60) rms
- 재현성 ≤ 20nm (λ/30) rms
- 정확도 ≤ 30nm (λ/20) rms
- 지름 ≤ 300mm 측정 가능
제품 사진
주소 : 서울특별시 금천구 가산디지털 1로 19 대륭테크노타운 18차 1306호 (우편번호 08594) T 02-852-0533 F 02-853-0537
Copyright 2017 SHINHOTEK. All Right Reserved.